聚合物和电子材料检测

发布时间：2024-06-21 作者：中析研究所浏览：

GB/T 8718-2008炭素材料术语

本标准规定了炭素材料术语的分类规则，炭素材料的原料术语、产品术语、表观质量术语、化学分析和物理检测术语。本标准适用于编制各种标准、技术性文件、资料、编写和翻译手册、教材及书刊等。

GB/T 13542.6-2006电气绝缘用薄膜第6部分:电气绝缘用聚酰亚胺薄膜

本部分规定了下列聚酰亚胺薄膜的技术要求，这些薄膜可涂覆或不涂覆可热封的氟乙烯-丙烯（FEP）涂层： 1）以聚（N,N'—P,P'—二苯醚均苯四甲酰亚胺）为基的聚酰亚胺薄膜； 2）以聚（N,N'—P—对苯撑联苯四甲酰亚胺）为基的聚酰亚胺薄膜； 3）以聚（N,N'—P,P'—二苯醚联苯四甲酰亚胺）为基的聚酰亚胺薄膜。

GB/T 19247.1-2003印制板组装第1部分;通用规范采用表面安装和相关组装技术的电子和电气焊接组装的要求

本部分规定了采用表面安装和相关组装技术、进行高质量焊接互连和组装的材料、方法及检验判据的要求。并推荐了良好的制造工艺。

GB/T 22727.1-2008通信产品有害物质安全限值及测试方法.第1部分:电信终端产品

GB/T 22727的本部分规定了电信终端产品中含有的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬[Cr（Ⅵ）]、多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）六种有害物质的安全限值及测试方法。本部分的安全限值要求适用于电子信息产品污染控制管理目录中列出的电信终端产品，本部分的测试方法适用于电信终端产品。

GB/T 23113-2017荧光灯含汞量检测的样品制备

本标准规定了几种用于检测荧光灯含汞量的样品制备方法。本标准适用于检测荧光灯(包括单端、双端、自镇流和冷阴极荧光灯)灯管中汞含量(0.1 mg或更多)，但不适用于寿终的灯。本标准不包括全部测量信息，详细测量部分在IEC 62321-4中说明。

GB/T 23807-2009精细陶瓷分类系统

本标准规定了精细陶瓷的分类。该系统包括陶瓷粉料前驱体、粉末、陶粒、纤维、晶须、片晶、单晶、多晶、非晶态(玻璃)材料，及复合材料、陶瓷薄膜、涂层。该分类系统将构成标准的核心。分类系统不包含以下：a 碳材料，除某些特殊陶瓷如金刚石、玻璃碳或者化学气相沉积石墨以外；b 硅材料，锗元素以及其他半金属材料，但它们作为精细陶瓷组成或前驱体时除外；c 粘土类传统陶瓷，包括：1 日用陶器(餐具等日用精细陶瓷制品)；2 建筑卫生陶瓷；3 墙体材料；d 定形的和不定形的耐火材料。本标准适用于精细陶瓷的分类。本标准不适用于硬质合金产品或者主要成分为玻璃的制品，但可以参照采用。本标准不是为了强制规范该分类系统如何使用，而是提供一个灵活框架和一个推荐性的可操作的编码系统，使用人员可以根据陶瓷产品信息编订编码。

GB/T 31058-2014电子工业用气体四氟化硅

本标准规定了四氟化硅的技术要求、试验方法、标志、包装、运输和贮存等内容。本标准适用于萤石硫酸法、六氟硅酸盐热分解法、单质硅直接氟化法制备的四氟化硅。它主要用作电子工业中等离子蚀刻、发光二极管P形掺杂、离子注入工艺、外延沉积扩散的硅源和光导纤维用高纯石英玻璃的原料,也是生产多晶硅的重要原料。分子式:SiF<下标4>。相对分子质量:104.0786128(按2009年原子相对质量)。

GB/T 31134-2014电气用纤维增强环氧粉状模塑料(EP-PMC)

本标准规定了电气用纤维增强环氧粉状模塑料(EP-PMC)的产品分类命名、性能要求、试验方法、检验、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于以环氧树脂为基体,以纤维为增强材料制成的电气用纤维增强粉状模塑料(EP-PMC)。

GB/T 31135-2014电气用纤维增强不饱和聚酯粉状模塑料(UP-PMC)

本标准规定了电气用纤维增强不饱和聚酯粉状模塑料(UP-PMC)的产品分类命名、性能要求、试验方法、检验、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于以不饱和聚酯树脂为基体，以纤维为增强材料制成的电气用纤维增强粉状模塑料(UP-PMC)。

GB/T 33498-2017表面化学分析纳米结构材料表征

本标准介绍了利用表面分析技术能获得的纳米结构材料的信息种类，并给出一些例子(见第4章)。本标准不仅指出了表征纳米结构材料时的普遍问题或难题，而且指出了使用特定方法时的特有途径或难题(见第5章)。当物体或材料组成部分的尺寸接近几个纳米时，“块体”“表面”和“颗粒”分析之间的差异就变得模糊不清。本标准除明确了表征纳米结构材料时的一些普遍问题外，它明确了与纳米结构材料表面化学分析具体相关的问题。本标准涉及多种分析和表征方法，但其仍是表面化学分析范围内的方法，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱和扫描探针显微术等。纳米颗粒表面性质(如表面电势)的某些类型测量常常是在溶液中进行的，本标准不涉及这部分内容。尽管纳米级厚度薄膜和均匀纳米颗粒集合有很多相似之处，但表征它们面临不同的难题。本标准举例说明了既适用于薄膜又适用于颗粒或纳米物体的表征方法。能确定的性质包括存在的污染、涂层的厚度和加工前后的表面化学性质。除明确能获得的信息种类外，本标准也概括了分析前或分析过程中必须考虑的普遍问题和特定技术问题，包括需确定的信息、稳定性和探针影响、环境影响、样品处理问题和数据的解释。本标准介绍了使用一系列特定的表面分析方法可获得的纳米材料信息，但这些信息从本质上说不可能是完整的。然而，本标准提供了重要的途径、思路和问题，同时提供了很多参考文献以便于根据需要对这些问题进行更深入的分析研究。