您的位置：首页 > 其他

中子辐射水平检测

发布日期： 2024-06-21 17:34:53 - 更新时间：2024年06月29日 15:22

中子辐射水平检测项目报价？解决方案？检测周期？样品要求？

GB/T 150.1-2011压力容器第1部分：通用要求

本标准规定了金属制压力容器的建造要求。本部分规定了金属制压力容器材料、设计、制造、检验和验收的通用要求。本标准适用的设计压力：钢制容器不大于35MPa。其他金属材料制容器按相应引用标准确定。本标准适用的设计温度范围：设计温度范围：-269℃～900℃。钢制容器不得超过按GB 150.2中列入材料的允许使用温度范围。其他金属材料制容器按本部分相应引用标准中列入的材料允许使用温度确定。

GB/T 151-2014热交换器

本标准规定了金属制热交换器的通用要求,并规定了管壳式热交换器材料、设计、制造、检验、验收及其安装、使用的要求。本标准的通用要求适用于管壳式热交换器及其他结构型式热交换器,本标准的所有内容适用于管壳式热交换器。本标准适用的设计压力:a) 管壳式热交换器的设计压力不大于35 MPa;b) 其他结构型式热交换器的设计压力按相应引用标准确定。本标准适用的设计温度:a) 钢材不得超过GB 150.2-2011列入材料的允许使用温度范围;b) 其他金属材料按相应引用标准中列入材料的允许使用温度确定。本标准中管壳式热交换器适用的公称直径不大于4 000 mm,设计压力(MPa)与公称直径(mm)的乘积不大于2.7×10<上标4>。超出1.5条范围的管壳式热交换器,可参照本标准进行建造。本标准不适用于下列热交换器:a) 直接火焰加热的热交换器;b) 烟道式余(废)热锅炉;c) 核能装置中存在中子辐射损伤失效风险的热交换器;d) 非金属制热交换器;e) 制冷空调行业中另有标准或行业标准的热交换器。热交换器界定范围:a) 热交换器与外部管道连接:1) 焊接连接的第一道环向接头坡口端面;2) 螺纹连接的第一个螺纹接头端面;3) 法兰连接的第一个法兰密封面;4) 专用连接件或管件连接的第一个密封面。b) 接管、人孔、手孔等的承压封头、平盖及其紧固件;c) 非受压元件与受压元件的连接焊缝;d) 直接连接在热交换器上的非受压元件如支座、垫板等;e) 安装在热交换器上的超压泄放装置。

GB/T 2900.93-2015电工术语电物理学

GB/T 2900的本部分规定了电物理学方面的通用术语。包括空间和时间、一般宏观概念、力、热力学、粒子物理学等方面的术语和定义。本部分适用于与电学有关的基础物理的相关方面。

GB/T 2900.97-2016电工术语核仪器:物理现象、基本概念、仪器、系统、设备和探测器

本部分规定了核仪器技术领域用术语和定义。本部分适用于涉及核仪器：物理现象、基本概念、仪器、系统、设备和探测器技术领域。

GB 4075-2009密封放射源.一般要求和分级

本标准以测试性能为基础建立了密封放射源分级体系，并对源的性能、要求、检验方法、标识和证书等作了规定。本标准为密封放射源产生者提供了评价其产品在使用中安全性的系列检验，同时也便于使用者选择满足使用要求的放射源类型，特别是对关注防止因放射性物质泄漏而造成电离辐射照射的场所选择放射源类型时能提供帮助。本标准也可为管理部门提供指导。这些检验分为几组，例如，包括暴露于异常高温和低温检验以及各种机械检验。每项检验适用于不同的严格程度。检验结果是否通过，取决于密封放射源、内容物是否泄漏。表4给出了对密封放射源、主要典型使用中的每种应用和建议的检验级别。广义来说，这些检验是对各种使用的低要求，在一些特别恶劣条件下使用时(见附录C)所须考虑的因素列于4.2。本标准不按源的设计、制造方法或发出辐射的刻度方法分级，本标准不包括核反应堆内的放射性物质(含密封源)和燃料元件。

GB/T 4475-1995敏感元器件术语

本标准规定了敏感元器件的术语及定义，包括热（温）敏、光敏、压敏、湿敏、气敏、磁敏、力敏、离子敏、生物敏、放射线敏和纤维光学敏感元器件11个部分。本标准适用于敏感元器件的生产、使用、科研和教学等方面，作为统一技术用语的依据。

GB/T 4597-2012电子管词汇

本标准规定了电子管基本术语和定义、与电子管结构相关的术语和定义、与电子管类别相关的术语和定义、与电子管参数特性相关的术语和定义。

GB/T 4835.1-2012辐射防护仪器 β、X和γ辐射周围和/或定向剂量当量（率）仪和/或监测仪第1部分：便携式工作场所和环境测量仪与监测仪

GB/T 4835的本部分适用于测量由外部β、X和γ辐射产生的周围剂量当量(率)和/或定向剂量当量(率)的剂量当量(率)仪和/或监测仪(按ICRU 47号报告的建议)、本部分仅适用于在工作场所和环境中使用的便携式测量仪和监测仪、本部分适用于测量由外部β和/或X以及γ辐射产生的剂量当量或剂量当量率的仪器,剂量范围为0.01 μSv~10 Sv,剂量率范围为0.01 μSv 、 h<上标-1>~10 Sv 、h<上标-1> ,表1给出了能量范围、所有能量值是主要剂量量的平均能量、

GB/T 4835.2-2013辐射防护仪器 β、X和γ辐射周围和/或定向剂量当量（率）仪和/或监测仪第2部分:应急辐射防护用便携式高量程β和光子剂量与剂量率仪

GB/T 4835的本部分适用于在应急情况下测量由外部β、X和γ辐射产生的周围和/或定向剂量当量(率)的便携式或移动式剂量当量(率)仪和/或监测仪。它直接适用于在应急情况下使用的剂量当量(率)仪,该仪器用于确定能量高达10 MeV的外部β和/或X及γ辐射产生的剂量当量或剂量当量率。本部分的目的是规定用于在应急情况下确定周围和/或定向剂量当量(率)的剂量当量(率)仪的设计要求和性能特性。除了经过本部分的修改和列出的新条款,GB/T 4835.1-2012中的所有条款均适用于应急目的的仪器。本部分既没有规定需要哪种仪器,也不考虑仪器的数量或特定位置。本部分没有为特定的事故类型确定使用的仪器。仪器的额定范围以及仪器设计所考虑的放射和非放射条件要充分覆盖由事故分析确定的和/或由相关管理部门或有资质人员规定的事故和事故后条件。预期这些事故将包括剂量当量(率)和极端的环境(例如,温度和湿度)。对于测量低于本部分规定的小可探测剂量率水平的剂量当量率仪,其技术要求见GB/T 4835.1-2012。在这种仪器也用于应急测量时,还应满足本部分的要求。虽然本部分规定了主要用于应急情况的仪器要求,这些仪器也可用于平时的现场测量。如果仪器配置一个远距离的探测器并提供一个测量运行人员所在位置剂量当量率的附加探测器,要求应适用于这两种探测器。

GB/T 4937.17-2018半导体器件机械和气候试验方法第17部分:中子辐照

GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下：a)　检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系；b)　确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内(见第4章)。

GB/T 4937.18-2018半导体器件机械和气候试验方法第18部分:电离辐射(总剂量)

GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行<上标60>Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。本部分仅适用于稳态辐照，并不适用于脉冲型辐照。本部分主要针对军事或空间相关的应用。本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化，因而被认为是破坏性试验。

GB/T 4937.22-2018半导体器件机械和气候试验方法第22部分:键合强度

GB/T 4937的本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)。本部分的目的是测量键合强度或确定键合强度是否满足规定的要求。

GB/T 4937.201-2018半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输

GB/T 4937的本部分适用于采用再流焊工艺和暴露于大气环境中的所有非气密封装表面安装器件(SMD)。本部分的目的是为SMD承制方和用户提供按照IEC 60749-20中规定进行等级分类的潮湿、再流焊敏感的SMDs的操作、包装、运输和使用的标准方法。提供的这些方法是为了避免因吸收湿气和暴露于再流焊的高温下造成的损伤，这些损伤会造成成品率和可靠性的降低。通过这些程序的应用，实现安全无损的再流焊，元器件通过干燥包装，提供从密封之日起保存于密封干燥袋内的包装内寿命。IEC 60749-20耐焊接热试验中规定了两种水汽浸渍试验方法，方法A和方法B。方法A，是在假设防潮袋内相对湿度小于30%的前提下规定的。方法B，是在假设承制方暴露时间(MET)不超过24 h，且防潮袋内相对湿度小于10%的前提下规定的。在实际操作环境中，使用方法A的SMDs允许吸收湿气达到30%RH，使用方法B的SMDs允许吸收湿气达到10%RH。本部分规定了在上述试验条件下SMDs的操作条件。