半导体分立器件失效分析检测
GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
本规范构成电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。
GB/T 4937.17-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照
GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下：a) 检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系；b) 确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内(见第4章)。
GB 16899-2011自动扶梯和自动人行道的制造与安装安全规范
本标准适用于新制造的自动扶梯和踏板式或胶带式自动人行道(见第3章)。 本标准考虑了按照预期目的使用并在制造商可预见的误用情况下,与自动扶梯和自动人行道相关的所有重大危险、危险状态和事件(见第4章)。 本标准未考虑因地震引起的危险。 本标准不适用于本标准实施前制造的自动扶梯和自动人行道。
GB/T 20438.7-2017电气/电子/可编程电子安全相关系统的功能安全 第7部分:技术和措施概述
GB/T 20438的本部分包含了GB/T 20438.2和GB/T 20438.3有关的各种安全技术和措施的概述。参考文献仅作为各种方法和工具或示例的基本参考，不一定代表当前技术水平。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4是基础的安全标准，虽然它不适用于低复杂的E/E/PE安全相关系统(见GB/T 20438.4—2017的3.4.3)，但作为基础安全标准，各技术委员会可以在IEC指南104和ISO/IEC指南51的指导下制定相关标准时使用。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4也可作为独立标准来使用。GB/T 20438的横向安全功能不适用于在IEC 60601系列指导下的医疗设备。各技术委员会的责任之一，是在其标准的起草工作中尽可能使用基础的安全标准。在本部分中，本基础安全标准中的要求、测试方法或测试条件只有在这些技术委员会起草的标准中已明确引用或包含时适用。图1表示了GB/T 20438的整体框架，同时明确了本部分在实现E/E/PE安全相关系统功能安全过程中的作用。
GB/T 20515-2006半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路
本标准规了下列集成电路（IC）分类体系树（见图1）中有关半定制集成电路子类的标准。
GB/T 32872-2016空间科学照明用LED筛选规范
本标准规定了空间科学照明用LED(Light Emitting Diode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量和合格判定。本标准适用于空间科学照明用额定功率1 W和1 W以上封装的单芯LED的筛选，其他功率级别的LED也可参照执行。
GB/T 36356-2018功率半导体发光二极管芯片技术规范
本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。本标准适用于功率半导体发光二极管芯片。
GB/T 36357-2018中功率半导体发光二极管芯片技术规范
本标准规定了中功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。本标准适用于中功率半导体发光二极管芯片。
GB/T 37079-2018设备可靠性 可靠性评估方法
本标准描述了在产品早期阶段实施的可靠性评估方法，主要是基于元件和模块现场使用和试验数据进行。适用于需要执行关键任务，安全性要求高，商业价值大，集成度和复杂度高的产品。本标准包含以下信息：开展早期可靠性评估的原因、实施程序和应用场合。后，标准详细介绍了开展可靠性评估的方法以及用于可靠性评估的必备数据，同时采用了基于失效物理的方法来评估产品的耐久性(寿命或者耗损)。本标准详细讨论了三种可靠性评估方法：——相似性分析法；——耐久性分析法；——数据手册预计法。
QJ 1317A-2005电子元器件失效分类及代码
本标准规定了航天产品用电子元器件失效分类及其代码。本标准适用于航天产品研制过程中电子元器件失效信息的管理系统。在研制或管理航天用电子元器件工作中亦可参照使用。
QJ 1556B-2008元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定
本标准规定了航天用电气、电子和机电元器件（以下简称元器件）质量与可靠性信息采集卡的格式和填写要求。本标准适用于元器件保证全过程主要质量与可靠性信息的采集。
QJ 2227A-2005航天元器件有效贮存期和超期复验要求
本标准规定了航天产品用电气、电子和机电元器件(以下简称元器件)在规定的环境条件下贮存的期限(有效贮存期)；以及超过有效贮存期，在装机前应通过的检验方法和条件。本标准主要适用于国产元器件，对于未列入本标准的国产元器件亦可参照与该类元器件有相同或相似特征(如制造工艺、结构特点等)的列入本标准的元器件使用。
