GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

　　Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer

　　标准 推荐性 现行英文版计划标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》由TC203(半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行，主管部门为标准化管理委员会。

GB/T 37051-2018主要起草单位

英利集团有限公司 、中国电子技术标准化研究院 、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 、泰州中来光电科技有限公司 、晋能清洁能源科技有限公司 、镇江仁德新能源科技有限公司 、天津英利新能源有限公司 。

GB/T 37051-2018主要起草人

李锋 、李英叶 、段青春 、张伟 、吴翠姑 、冯亚彬 、裴会川 、程小娟 、唐骏 。

GB/T 37051-2018相近标准(计划)

20141879-T-469 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅
20080034-T-469 太阳能级多晶硅
20141898-T-469 太阳能级多晶硅 太阳能电池用多晶硅片
GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片
20162487-T-469 太阳能电池用多晶硅片
GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
20081138-T-469 太阳能级铸造多晶硅块
GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片