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本方法适用于生长半导体器件及电路用硅外延片、多晶硅和光通讯器件用光纤予制件的高纯四氯化硅中磷含量的测试方法。
本标准规定了衫(Sm)-钕(Nd)同位素地质年龄和钕(Nd)同位素比值的测定方法。\t本标准适用于全岩、单矿物Sm-Nd同位素地质年龄及Nd同位素比值的测定。