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电离室和（或）半导体探测器剂量计检测项目报价？ 解决方案？ 检测周期？ 样品要求？ |
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本标准规定了使用硫酸亚铁酸性水溶液剂量测量系统测量电离辐射水中吸收剂量的制备方法和测试程序。该系统又称为Fricke剂量测量系统，由剂量计和相关的分析仪器组成。本标准规定了用分光光度法测定Fricke剂量计的程序。本标准适用于γ射线、X射线（轫致辐射）和高能电子束吸收剂量的测量。本标准适用于在下述条件下测量吸收剂量的Fricke剂量计剂量测量系统：吸收剂量范围：20Gy～400Gy。吸收剂量率：≤10<上标 6>Gy•s<上标 -1>。辐射能量：γ射线源的初始光子能量应大于0.6MeV；对于X射线（轫致辐射），用于产生光子的电子初始能量应等于或大于2.0MeV；对于电子束，电子的初始能量应不小于8.0MeV（见ICRU 34和35号报告）。剂量计的辐照温度：10℃～60℃。本标准不涉及与使用相关的安全问题（如果存在）。本标准的使用者负责建立适用的安全和健康标准，并在使用前确定其适用的限制范围。
本部分规定了核仪器技术领域用术语和定义。本部分适用于涉及核仪器：物理现象、基本概念、仪器、系统、设备和探测器技术领域。
本标准给出了声学和有关声学的常用的和基础的名词和术语。 本标准给出的声学术语共有914条，分成十三章（第2-14章）。当一术语具有两个或两个以上不同性质的定义时，则用a，b，c分行并列叙述。附录A为汉英声学名词，按汉语拼音字母次序排列，此附录同时作为声学术语的汉文索引。附录B为英汉声学名词，按英文字母次序排列，也作为声学术语的英文索引。 本标准声学术语中所列的名词（汉文或英文），当有两个或两个以上的同义词时，对于未加区别的名词，表示这些名词的地位是同等的，均可使用。对圆括号（）里的名词，一般表示过去曾用过的名词，现在仍可使用，但本标准不作推荐。方括号[]里的字表示可以省略。定义中圆括号（）里的字一般是注释。名词中的花括号{}表示主要根据所列学科的规定。斜体表示拼音。
本标准规定了电离辐射探测器用的主放大器（成形放大器）和电荷灵敏前置放大器的测试方法。 本标准适用于半导体探测器、气体脉冲电离室、正比探测器用的主放大器和电荷灵敏前置放大器，也适用于闪烁探测器用的主放大器。
本标准规定了点型感烟火灾探测器的一般要求、要求和试验方法、检验规则和标志。 本标准适用于一般工业与民用建筑中安装的使用散射光、透射光工作原理的点型光电感烟火灾探测器。其他环境中安装的或使用其他工作原理的点型感烟火灾探测器，除特殊技术要求应由有关标准另行规定外，亦应执行本标准。
GB/T 4835的本部分适用于测量由外部β、X和γ辐射产生的周围剂量当量(率)和/或定向剂量当量(率)的剂量当量(率)仪和/或监测仪(按ICRU 47号报告的建议)、本部分仅适用于在工作场所和环境中使用的便携式测量仪和监测仪、本部分适用于测量由外部β和/或X以及γ辐射产生的剂量当量或剂量当量率的仪器,剂量范围为0.01 μSv~10 Sv,剂量率范围为0.01 μSv 、 h<上标-1>~10 Sv 、h<上标-1> ,表1给出了能量范围、所有能量值是主要剂量量的平均能量、
GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。试验目的如下：a) 检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系；b) 确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内(见第4章)。
GB/T 4937的本部分对已封装的半导体集成电路和半导体分立器件进行<上标60>Co γ射线源电离辐射总剂量试验提供了一种试验程序。本部分提供了评估低剂量率电离辐射对器件作用的加速退火试验方法。这种退火试验对低剂量率辐射或者器件在某些应用情况下表现出时变效应的应用情形是比较重要的。本部分仅适用于稳态辐照，并不适用于脉冲型辐照。本部分主要针对军事或空间相关的应用。本试验可能会导致辐照器件的电性能产生严重退化，因而被认为是破坏性试验。
本标准规定了放射性核素领域有关的术语及定义。 本标准适用于放射性核素领域内编写标准和技术文件、翻译文献及国内交流等。
GB/T 4960的本部分规定了核辐射探测器、通用核仪器、核设施仪表和控制、辐射防护仪器及核辐射应用仪器等核仪器的基本术语和定义。本部分适用于有关核仪器标准、合同、报告和技术规格书等技术文件的编写，文献翻译以及技术交流等。
本规定适用于加速粒子的单核能量低于100MeV的粒子加速器（不包括医疗用加速器和象密封型中子管之类的可移动加速器）设施。
本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
本标准适用于直接测量或直接探测发射a和/或β核素的表面污染测量仪和监测仪，其至少包括： —探测装置(包括计数管、闪烁探测器或半导体探测器等)，它可以固定连接或由软电缆连接，或者组成一单独的装置； —测量装置 一些测量仪和监测仪由探测装置和测量装置组成，在能将探测装置与仪器分开的情况下，可单独使用探测装置。为了满足本标准，要求所有包括探测装置和测量装置的仪器符合本标准要求，或探测装置和测量装置分别符合本标准相关部分要求 注：对于后一种使用方式经证明符合本标准的要求，但是不能就此推断其他特殊仪器的组合配置也符合标准。后一种使用方式，允许用户使用不同制造厂生产的装置进行组合配置 本标准适用于： —a表面污染测量仪； —a表面污染监测仪； —β表面污染测量仪； —β表面污染监测仪； —a/β表面污染测量仪； —a/β表面污染监测仪。 后两种设备能够同时确定a和β污染，并分别显示测量结果： —a(β，a/β)表面污染测量仪：包括一个或多个辐射探测器和相关装置或基本功能单元。在检查表面污染时，用来测量a(β、a/β)表面发射率； —a(β，a/β)表面污染监测仪。 本标准也适用于那些有特殊用途的仪器和为测量特殊性质表面而设计的仪器。但标准的某些要求需根据这些仪器的特殊要求进行修改或补充 如果一个仪器能实现多种功能，则仪器需满足这些不同功能的所有要求。如果仪器以一种功能为主，兼有其他功能，则仪器需满足主要功能的所有要求，并尽可能满足其他功能的要求。 本标准不适用于测量或探测大能量小于60 keV β粒子的辐射监测仪或测量仪 本标准的目的是规定标准要求和给出一些适用方法的实例，还规定了一般特性、一般试验条件和方法、辐射特性、电气安全、环境特性以及a、β及a/β污染测量仪和监测仪的合格证书
GB/T 5464的本部分规定了电气设备用图形符号及其名称、含义和应用范围。本部分的图形符号适用于以下用途：——标识设备或其组成部分（如控制器或显示器）；——指示功能状态或功能（如开、关、告警）；——标示连接（如端子、接头）；——提供包装信息（如包装物的标识、装卸说明）；——提供设备的操作说明（如使用限制）。本部分的图形符号不适用于以下用途。——安全标记；——公共信息；——图样的简图；——产品技术文件。
本文件规定了用于核反应堆的辐射探测器的特性及测试方法。本文件所述用于核反应堆的辐射探测器均属于气体电离辐射探测器，其工作介质为气体。本文件适用于核反应堆堆外核测系统中使用的中子正比计数管(BF<下标3>计数管、<上标3>He计数管、涂硼计数管)、裂变电离室(工作在脉冲模式下、工作在均方电压模式下、工作在电流模式下)、涂硼电离室(含γ补偿电离室、无补偿涂硼电离室)，也适用于核反应堆堆芯测量系统中使用的移动式微型裂变电离室。其他应用场合下的同类型探测器可参考使用。
本标准规定了锗γ射线探测器的性能测试方法。本标准适用于高纯锗γ射线探测器的性能测试，也适用于高纯锗X射线探测器和锗（锂）探测器的性能测试。
本标准规定了高活度钴60密封放射源的结构、技术要求、试验方法、检验规则、标志、检验证书和使用说明书、包装、运输和贮存等内容。本标准适用于放射性活度(以下简称活度)大于10 TBq的远距离治疗用钴60γ源、工业辐照用钴60γ源，也适用于γ刀治疗用钴60γ源、探伤用钴60γ源以及其他用途的活度大于10 TBq的钴60γ源。
本标准规定了传感器的产品名称和性能特性术语。 本标准适用于传感器的生产、科学研究、教学以及其他有关技术领域。
