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GB/T 2423的本部分提供了一种组合试验方法,主要用于元器件类试验样品,以加速方式来确定试验样品在高温/高湿和低温条件恶劣作用下的耐受性能。
GB/T 2423的本部分规定了一种以加速方式评定小型电工电子产品(主要是非气密元件)耐湿热劣化效应的标准试验方法。本试验不适用于评定如腐蚀和变形等外部效应。
GB/T 2423的本部分规定了一种以加速方式评价小型电工电子产品(主要是非气密元件)耐湿热劣化效应的试验方法。本试验不适用于评价诸如腐蚀和变形等外部效应。
GB/T 2423的本部分规定了一种大型试件整体吹砂尘的试验方法。本部分适用于GB/T 2423.37中方法难以完成的大型试验件的砂尘试验。包括但不限于如下产品:风力发电设备、沙漠地区太阳能发电设备、交通工具和户外设备等。本部分不适用于大型试件非磨蚀性细尘试验和自由降尘试验,大型试件非磨蚀性细尘试验和自由降尘试验方法需参考GB/T 2423.37—2006。本试验方法不适用于检测空气过滤器。
GB/T 2424的本部分适用于给有关设计和试验人员在应用二氧化硫试验规范时提供指导。
GB/T 2424的本部分适用于为有关设计和试验人员在应用硫化氢试验规范时提供指导。
GB/T 4122的本部分规定了产品运输包装领域检验与试验方面的术语及其定义。本部分适用于产品运输包装领域检验与试验。
本标准规定了印制电路用刚性覆铜箔层压板(以下简称为覆铜板)的外观、尺寸、物理和化学性能、机械性能、电性能、环境性能的试验方法。本标准适用于印制电路用刚性覆铜箔层压板。
GB/T 4857的本部分规定了对运输包装件和单元货物进行正弦定频振动试验时所用设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容。 本部分适用于评定运输包装件和单元货物在正弦定额振动情况下的强度及包装对内装物的保护能力。它既可以作为单项试验,也可以作为一系列试验的组成部分。
GB/T 4857的本部分规定了对运输包装件和单元货物进行正弦变频振动试验时所采用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容。 本部分适用于评定运输包装件和单元货物在正弦变频振动或共振情况下的强度及包装对内装物的保护能力。它既可以作为单项试验,也可以作为一系列试验的组成部分。
GB/T 4857的本部分规定了对运输包装件和单元货物进行低气压试验时所用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容。 本部分适用于评定在空运时增压仓和飞行高度不超过3500m的非增压仓飞机内的运输包装件和单元货物耐低气压的影响的能力及包装对内装物的保护能力。对于海拔较高的地面运输包装件和单元货物可参照本部分进行低气压试验。
本标准规定了对运输包装针进行倾翻试验时所用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容,可用地评定运输包装件倾翻时承受冲击的能力和包装对内装物的保护能力。它既可以作为单项试验,也可以作为包装件一系列试验的组成部分。 本标准适用于在储运过程中包装件的放置底面尺寸相对于高度较小的情况,一般情况下用于长边与短边尺寸之比不小于三比一的包装件。
GB/T 4857的本部分规定了通过控制冲击输入等级进行水平冲击试验时所用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告。本部分适用于评定运输包装件在受到水平冲击时的耐冲击强度和包装对内装物的保护能力。该实验既可以作为单项试验,也可以作为包装件系列试验的组成部分。
GB/T 4857的本部分规定了运输包装件性能试验大纲编制的通用规则及有关定量数据。本部分适用于运输包装件性能试验大纲的编制的确定。本部分不适用于危险品运输包装件。
本标准规定了对运输包装件进行碰撞试验时所用试验设备的主要性能要求、试验程序及试验报告的内容。 本标准适用于评定运输包装件在运输过程中承受多次重复性机械碰撞的耐冲击强度及包装对内装物的保护能力。它既可作为单项试验,也可以作为一系列试验的组成部分。
本标准规定了单元货物稳定性试验的设备、程序和报告的要求。 本标准适用于评定单元货物在陆地流通环境中受到危害时的性能,海运流通环境亦可参考使用。它既可以做为单项试验,也可以作为系列试验的组成部分。
本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力,而这种失效是由于气压减小时,空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过100OV 的器件。 本项试验适用于所有的空封半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。 本项低气压试验方法和IEC60068-2-13大体上一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,使用本部分条款。
GB/T 4937的本部分过电流强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化——双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化——双液槽法试验时,优先采用空气-空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次~10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明,本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内,振动对器件的影响。本试验是破坏性试验,通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。