数字集成电路存储器检测

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GB/T 2900.66-2004电工术语 半导体器件和集成电路

GB／T 2900的本部分界定了半导体技术、半导体设计和半导体类型的通用术语。

GB/T 3431.2-1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

本标准规定了半导体集成电路（以下简称器件）引出端功能的文字符号。

GB/T 12274.1-2012有质量评定的石英晶体振荡器.第1部分：总规范

GB/T 12274的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试验方法和通用性要求。本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器。

GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路

本标准给出了下列各类或各分类器件的标准： --组合和时序数字电路； --存储器集成电路； --微处理器集成电路； --电荷转移器件。

GB/T 17574.9-2006半导体器件.集成电路.第2-9部分:数字集成电路.紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。

GB/T 17574.10-2003半导体器件 集成电路 第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

GB/T 17574.11-2006半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范

本部分半导体器件集成电路第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范，适用于：标志和订货资料、应用说明、功能说明、极限值、工作条件、电特性、编程等。

GB/T 17574.20-2006半导体器件集成电路 笫2-20部分:数字集成电路低压集成电路族规范

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范，包括电源电压值、容差和坏情况下的输入、输出电压极限值。 同时给出每类标称电源电压的两种接口规范：正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的，典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围，可以使电池继续工作的实际值。

GB/T 20438.2-2017电气/电子/可编程电子安全相关系统的功能安全 第2部分:电气/电子/可编程电子安全相关系统的要求

GB/T 20438的本部分a)　在使用前，应充分理解GB/T 20438.1，GB/T 20438.1提供了实现功能安全的总体框架；b)　适用于GB/T 20438.1定义的安全相关系统，安全相关系统至少包含一种电气、电子或可编程电子组件；c)　适用于E/E/PE安全相关系统中的所有组件(包括传感器、执行器和操作员界面)；d)　规定了如何按照GB/T 20438.1定义的E/E/PE系统安全要求规范(由E/E/PE系统安全功能要求规范和E/E/PE系统安全完整性要求规范组成)，开发出E/E/PE系统设计要求规范；e)　规定了在E/E/PE安全相关系统的设计和制造过程中(即建立E/E/PE系统安全生命周期模型)除软件外所进行活动的要求，软件要求在GB/T 20438.3(见图2~图4)中给出；这些要求包含了用以避免和控制故障和失效发生的技术和措施的应用，并被划分成与安全完整性等级相对应的不同等级；f)　规定了执行E/E/PE安全相关系统的安装、调试以及终安全确认所需的信息；g)　不适用于E/E/PE安全相关系统的运行和维护阶段，这方面内容在GB/T 20438.1中给出。但是，本部分为用户提供了有关E/E/PE安全相关系统的运行和维护所需的信息和规程的准备要求；h)　规定了对E/E/PE安全相关系统进行各种修改的各方应满足的要求；i)　不适用于符合IEC 60601的医疗设备。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4是基础的安全标准，虽然它不是针对低复杂的E/E/PE安全相关系统(见GB/T 20438.4—2017的3.4.3)，但作为基础安全标准，各技术委员会可以在IEC指南104和ISO/IEC指南51的指导下制定相关标准时使用。GB/T 20438.1、GB/T 20438.2、GB/T 20438.3和GB/T 20438.4也可作为独立标准来使用。GB/T 20438的横向安全功能不适用于在IEC 60601系列指导下的医疗设备。各技术委员会的责任之一，是在其标准的起草工作中尽可能使用基础的安全标准。在本部分中，本基础安全标准中的要求、测试方法或测试条件只有在这些技术委员会起草的标准中已明确引用或包含时适用。图1表示了GB/T 20438的整体框架，同时指出了本部分在实现E/E/PE安全相关系统的功能安全过程中的作用。GB/T 20438.6—2017的附录A详述了GB/T 20438.2和GB/T 20438.3的应用。

GB/T 20515-2006半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

本标准规了下列集成电路（IC）分类体系树（见图1）中有关半定制集成电路子类的标准。

GB/T 29545-2013机床数控系统 可靠性设计

本标准规定了机床数控系统可靠性设计的基本流程、方法以及评审内容和程序。本标准适用于机床数控系统(以下简称“数控系统”)。其他工业机械设备数控系统的可靠性设计可参照本标准。

GB/T 35003-2018非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

GB/T 35008-2018串行NOR型快闪存储器接口规范

本标准规定了串行或非(NOR)型快闪存储器(以下称为器件)的物理接口、存储阵列架构、指令定义和参数表说明等。本标准适用于地址为24位的串行NOR型快闪存储器的设计和使用。

GB/T 35009-2018串行NAND型快闪存储器接口规范

本标准规定了串行与非(NAND)型快闪存储器(以下称为器件)的物理接口、存储阵列架构、指令定义和参数表说明等。本标准适用于串行NAND型快闪存储器的设计和使用。

GB/T 36474-2018半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法

本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试的方法。本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试。

GB/T 36477-2018半导体集成电路 快闪存储器测试方法

本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

GB/T 50780-2013电子工程建设术语标准

1.0.1为规范电子工程建设的基本术语及其定义,实现术语标准化,制定本标准。1.0.2本标准适用于电子工程建设的规划、咨询、设计、工程监理、工程管理等工程服务以及教学、科研及其他相关领域。1.0.3电子工程建设文件、图纸、科技文献使用的术语,除应符合本标准外,尚应符合现行有关标准的规定。

HB 6632-1992航空电气图用二进制逻辑单元图形符号

本标准规定了GB 4728.12（二进制逻辑单元）中未列入的电气图用二进制逻辑单元图形符号，以及复杂功能逻辑单元图形符号的绘制规则。　　本标准和GB 4728.12配套使用，适用于维持有关航空电气图用二进制逻辑单元图形符号。

HB 6636-2006航空电气系统及设备的参照代号

本标准规定了航空电气系统及设备内项目的参照代号、端子代号等的构成和分类码。 本标准适用于航空产品的电气简图、接线表、元件表、说明书及印制板图等电气技术文件，用以标识航空电气系统及设备内的项目。也可用于将参照代号或其一部分表示在电气设备装置和元器件上方或近旁，以标明其功能、名称、位置等。

HB/Z 298-1997民用飞机航空电子设备设计指南

本标准规定了民用飞机航空电子设备（以下简称航空电子设备）互换性、安装、硬件和软件设计以及设备测试等方面的要求。　　本标准适用于数字式航空电子设备，包括系统、分系统、设备和ＬＲＵ（Ｌｉｎｅ　Ｒｅｐｌａｃｅａｂｌｅ　Ｕ-ｎｉｔ，外场可更换单元）。在应用本标准时，可根据具体情况对其内容进行剪裁，以满足特定飞机对航空电子设备的特殊要求。