镓检测

发布时间：2024-06-21 作者：中析研究所浏览：

GB/T 1475-2022镓

本文件规定了镓的产品分类、要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书和订货单(或合同)内容。本文件适用于氧化铝生产过程中回收制取的工业镓(99.9%~99.999%)和以工业镓为原料经电解、精炼等方法制取的高纯镓(99.999 9%)。

GB/T 1555-2023半导体单晶晶向测定方法

本文件描述了X射线衍射定向和光图定向测定半导体单晶晶向的方法。本文件适用于半导体单晶晶向的测定。X射线衍射定向法适用于测定硅、锗、砷化镓、碳化硅、氧化镓、氮化镓、锑化铟和磷化铟等大致平行于低指数原子面的半导体单晶材料的表面取向；光图定向法适用于测定硅、锗等大致平行于低指数原子面的半导体单晶材料的表面取向。

GB/T 2296-2001太阳电池型号命名方法

本标准规定了太阳电池（包括单体、组件、板、子方阵、方阵）型号命名方法。本标准适用于同质结、异质结、肖特基势垒及光电化学型的太阳电池。

GB/T 4326-2006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达10<上标4>Ω•cm半导体单晶材料的测试。

GB 5172-1985粒子加速器辐射防护规定

本规定适用于加速粒子的单核能量低于100MeV的粒子加速器（不包括医疗用加速器和象密封型中子管之类的可移动加速器）设施。

GB/T 5838.1-2015荧光粉第1部分:术语

GB/T 5838的本部分规定了荧光粉材料常用的名词术语和定义。本部分适用于荧光粉常用名词术语的理解和使用。

GB/T 6609.1-2018氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第1部分:微量元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

GB/T 6609的本部分规定了冶金级氧化铝中微量元素含量的测定方法。(用氧化物表示为Na<下标2>O、K<下标2>O、Fe<下标2>O<下标3>、CuO、MgO、CaO、ZnO、V<下标2>O<下标5>、TiO<下标2>、Ga<下标2>O<下标3>、MnO、Li<下标2>O、BeO、Cr<下标2>O<下标3>、B<下标2>O<下标3>)本部分适用于冶金级氧化铝中微量元素含量的测定。测定范围见表1。

GB/T 6609.6-2018氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第6部分:氧化钾含量的测定

GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中氧化钾含量的测定方法。本部分适用于氧化铝中氧化钾含量的测定。方法一测定范围：0.002%~0.12%；方法二测定范围：0.002%~0.20%。

GB/T 6609.12-2018氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第12部分:氧化锌含量的测定火焰原子吸收光谱法

GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中氧化锌含量的测定。本部分适用于氧化铝中氧化锌含量的测定。测定范围：0.001 0%~0.040%。

GB/T 6609.19-2018氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第19部分:氧化锂含量的测定火焰原子吸收光谱法

GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中氧化锂含量的测定。本部分适用于氧化铝中氧化锂含量的测定。测定范围：0.005%~0.20%。

GB/T 6609.21-2004氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法丁基罗丹明B分光光度法测定三氧化二镓含量

本标准规定了氧化铝中三氧化二镓的测定方法。本标准适用于氧化铝中三氧化二镓含量的测定。测定范围：0.0050%～0.060%。

GB/T 6609.30-2022氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分:微量元素含量的测定波长色散X射线荧光光谱法

本文件规定了波长色散X射线荧光光谱法测定氧化铝中微量元素含量的方法，包括熔融制样法和研磨压片法，熔融制样法为仲裁方法。本文件适用于波长色散X射线荧光光谱法测定冶金级氧化铝中微量元素钠、硅、铁、钙、钾、钛、磷、钒、锌和镓(用氧化物表示为Na<下标2>O、SiO<下标2>、Fe<下标2>O<下标3>、CaO、K<下标2>O、TiO<下标2>、P<下标2>O<下标5>、V<下标2>O<下标5>、ZnO和Ga<下标2>O<下标3>)含量，其他氧化铝品种可参考使用本文件的方法。测定范围见表1。