石英晶体振荡器检测

发布时间：2024-06-21 作者：中析研究所浏览：

GB/T 213-2008煤的发热量测定方法

本标准规定了用氧弹量热法测定煤的高位发热量的原理、试验条件、试剂和材料、仪器设备、测定步骤、测定结果的计算、热容量、仪器常数标定和方法精密度等，以及低位发热量的计算方法。本标准适用于泥炭、褐煤、烟煤、无烟煤、焦炭、碳质页岩等固体矿物燃料及水煤浆。

GB/T 9820.2-2008计时学术语.第2部分:技术和商业用定义

GB/T 9820的本部分定义了用于钟表工业的主要技术和商业术语。本部分适用于计时仪器和相关装置。

GB/T 11461-2013频谱分析仪通用规范

本标准规定了频谱分析仪的术语和定义、通用技术要求、试验方法、质量检验规定和包装运输等内容。本标准适用于各种通用类型的频谱分析仪,包括模块化频谱分析仪和具有频谱分析的功能单元。

GB/T 12114-2013合成信号发生器通用规范

本标准规定了合成信号发生器术语和定义、通用技术要求、试验方法、质量检验规则和包装运输等内容。本标准适用于各种类型的合成信号发生器。具有合成信号发生器功能的插入单元或附属装置的测量仪器可以参照本标准。

GB/T 12274.1-2012有质量评定的石英晶体振荡器.第1部分：总规范

GB/T 12274的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试验方法和通用性要求。本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器。

GB/T 12274.4-2021有质量评定的石英晶体振荡器第4部分:分规范能力批准

GB/T 12274的本部分适用于质量评定以能力批准为基础的、按定制产品或标准产品制作的石英晶体振荡器。本部分规定了总规范IEC 60679-1中给出的优先额定值和特性以及试验和测量方法，并给出了石英晶体振荡器详细规范中采用的通用性能要求。优先额定值可直接应用于标准产品，但是不一定适用于定制产品。

GB/T 12274.401-2023有质量评定的石英晶体振荡器第4-1部分:空白详细规范能力批准

优先额定值包括：——工作温度范围；——气候类别；——机械试验严酷度。

GB/T 12275-1990石英晶体振荡器型号命名方法

本标准规定了石英晶体振荡器型号命名方法。供型号管理部门给产品型号用。

GB/T 12763.8-2007海洋调查规范第8部分:海洋地质地球物理调查

GB／T l2763的本部分规定了海洋地质、地球物理调查的基本内容、方法、资料整理及调查成果的要求。本部分适用于海洋地质、地球物理环境基础要素调查，一些、专项调查亦可参照使用。

GB/T 15151-2012频率计数器通用规范

本标准规定了频率计数器的要求、试验方法、质量检验规则等。本标准适用于各型频率计数器，是频率计数器产品设计、生产、试验和检验的共同依据，也是制定相应频率计数器产品标准的依据。

GB/T 17564.4-2009电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式.第4部分:IEC标准数据元素类型和元器件类别基准集

GB/T 17564的本部分在公共字典内规定: ——电工设备和系统用电气元器件和材料的数据元素类型定义;——元器件类别及相关分类模式的定义;这些定义与电气元器件(包括电子、机电元器件和电工设备及系统中用的材料)有关。本部分的目的是用下列方式提供唯一标识的数据元素类型集：——定义的内容准确无歧义;——规定的值格式;——非定量数据元素类型的规定值域。元器件分类模式、元器件类别定义(通过特定数据元素类型将相关和有效的特性特征分配给每类元器件)用来准确元歧义定义数据元素类型并且使整个数据元素类型集可管理。本部分的数据元素类型集预定用于计算机化系统进行元器件选择与元器件管理、零部件列表处理以及计算机辅助设计、制造和测试。

GB/T 20485.41-2015振动与冲击传感器校准方法第41部分:激光测振仪校准

GB/T 20485的本部分规定了通常在0.4 Hz~50 kHz频率范围内对直线运动激光测振仪进行绝对法和比较法校准所用的仪器和程序。本部分不仅规定了在认可或非认可校准实验室对激光测振仪或机械振动传感器进行校准所需的标准激光测振仪，而且明确了使用标准激光测振仪对激光测振仪进行绝对校准，或者使用经激光干涉法校准过的参考传感器对激光测振仪进行比较校准的方法和程序。若将激光测振仪设计成检测直线运动量(位移或速度)，并将其转化为一定比例(即时域相关)电信号输出的激光光学传感器，不论它们是否含有指示仪表，均可按照本部分进行校准。标准激光测振仪通常输出数字信号，激光测振仪通常输出模拟信号。激光测振仪的输出信号或读数可以是振幅，有时也包含运动量(包括加速度)的相移。本部分明确规定了复灵敏度模的校准(相位校准见附录D)。

GB/T 22319.6-2023石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量

本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 60444-5的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。