电子电器,电子元器件,集成电路及元器件检测

发布时间：2024-06-21 作者：中析研究所浏览：

GB/T 1094.6-2011电力变压器第6部分:电抗器

GB 1094的本部分适用于下列电抗器：——并联电抗器；——串联电抗器，包括限流电抗器、中性点接地电抗器、功率控制电抗器、电动机启动电抗器和电弧炉串联电抗器；——滤波(调谐)电抗器；——电容器阻尼电抗器；——电容器放电电抗器；——接地变压器(中性点耦合器)；——消弧线圈；——高压直流输电和工业用平波电抗器。但下列电抗器除外：——额定容量小于1 kvar的单相电抗器和额定容量小于5 kvar的三相电抗器；——各种专用电抗器，例如：高频的线路阻波器或安装于铁道车辆上的电抗器。若小型电抗器或专用电抗器无相应标准时，本部分的全部或部分内容可适用。

GB/T 1311-2008直流电机试验方法

本标准适用于GB 755规定范围内的一般用途直流电机。对特殊用途或有特殊试验要求的电机，凡本标准未规定的试验方法，应在该类型电机的标准中作为补充规定。

GB/T 1360-1998印制电路网格体系

本标准规定了印制电路网格体系，以确保印制电路与在其网格交点上安装的元器件之间的一致性。

GB/T 1417-1978常用电信设备名词术语

本标准所列名词术语适用于电信各的生产、设计、施工、维护、管理、科研、教学、出版及援外等方面。

GB/T 1418-1995电信设备通用文字符号

本标准规定了电信设备常用基本文字符号、常用辅助文字符号。本标准适用于电信系统图、电信平面图和框图及其它图样的绘制，标明系统、设备、部件、元件及线路的名称、性能作用和位置。本标准不适用于通信产品的型号命名。

GB/T 2018-2011磁带录音机测量方法

本标准规定了带宽6.30mm的盘式磁带和3.81mm的盒式磁带磁录音机及放音机的测量方法。本标准适用于带宽为6.30mm的盘式磁带和3.81mm的盒式磁带磁录音机。本标准不适用于特殊录音机,例如调制式录音机和高速复制机等。

GB/T 2036-1994印制电路术语

本标准规定了印制电路技术的常用术语及其定义。本标准适用于印制电路用基材、印制电路设计与制造、检测与印制板装联及有关领域。

GB/T 2099.9-2017家用和类似用途插头插座第2-9部分:信息插座的特殊要求

GB/T 2099的本部分规定了家用和类似用途的信息插座的标志、防触电保护、结构、电气性能、机械性能等技术要求。本部分适用于户内或户外使用的、家用和类似用途的、用于连接互联网和传输信息的固定式插座或移动式插座。信息插座适合在下述环境温度中使用：通常不超过+40 ℃，但在24 h期间内平均不超过+35 ℃，环境空气温度的下限值为-5 ℃。

GB/T 2423.5-2019环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击

GB/T 2423的本部分提供了确定样品经受规定严酷度的非重复或重复冲击能力的标准程序。本试验的目的是用来暴露机械薄弱环节和/或性能下降和冲击引起的累计损伤和退化情况，并且利用这些资料，结合有关规范，来决定样品是否可以接收。在某些情况下，本冲击试验也可以用来确定样品的结构完好性，或作为质量控制的手段(见A.2)。本试验主要针对不带包装样品，以及在运输条件下其包装可看作产品本身一部分的样品。如果不带包装物品进行试验，将之归于受试样品。然而，如果物品是有包装的，就将产品及其包装视作为一个受试样品。GB/T 2423.43—2008有关于包装产品接受试验的介绍。本部分是针对脉冲波形来编写的，附录A给出了选择和使用这些脉冲波形的导则，附录B讨论了各种不同波形的特性。如有可能，施加于样品的试验严酷等级和冲击脉冲波形尽可能模拟样品将要经受到的实际运输或工作环境的效果；而试验的目的是为了评价结构完整性，是否符合设计要求(见A.2和A.4)。在试验期间，样品总是直接或通过夹具固定到冲击试验机台面上。在适用的情况下，技术委员会的职责之一是在编写出版物时使用基本安全出版物。

GB/T 2423.10-2019环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)

GB/T 2423的本部分给出了一个标准的试验方法过程，用以确定元件、设备和其他产品(下文称样品)经受规定严酷度正弦振动的能力。如果试验要求采用非包装形式，表明受试样品是不带包装的。然而，如果试验要求样品带包装，就用带包装的产品，并将产品及其包装视为一个受试样品。本试验的目的是确定样品的机械薄弱环节和/或特性降低情况。用这些资料，结合有关规范用以判定样品是否可以接收。在某些情况下，本试验方法可用于论证样品的机械结构完好性和/或研究它们的动态特性。也可根据经受本试验不同严酷等级的能力来划分元器件等级。

GB/T 2423.15-2008电工电子产品环境试验.第2部分: 试验方法.试验Ga和导则: 稳态加速度

1.1 目的用于的确元器件、设备和其他电工电子产品（以下简称“样品”）经受稳态加速度环境所产生的力（重力除外），如运行的车辆、空中运载工具、旋转机械和抛射体所产生的力的作用下，结构的适应性和性能是否良好，以及评定一些元器件结构完好性。1.2 一般说明安装在运动体内的样品将经受到稳态加速度所产生的力，虽然在某些情况下，地面运输工具的加速度也是相当大的。然而，这种环境在空中运载工具及转动机械内为明显。一般说来，样品在使用时所经受到的加速度值沿运动体的每一主轴线是不同的。此外，在每一主轴线相反的两个方向加速度值往往也不相同。如果样品的方位相对于运动体不是确定的，有关规范在考虑了运动体在不同轴上的大加速度值后，规定样品的每一主轴线的两个相反方向的稳态加速度等级。

GB/T 2423.20-2014环境试验第2部分:试验方法试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验

本试验:--为评价用于接触点和连接件的银和银合金变色提供了一种加速试验方法;--尤其适用于作对比试验;--不宜作为通用腐蚀试验,即它可能无法预测接触点和连接件在工业大气中的腐蚀行为。本试验的目的是:a) 确定含硫化氢的大气对下面材料制成的接触点和连接件的接触特性的影响:--银或银合金;--有其他保护层的银;--用银或银合金覆盖的金属。b) 检查用上述材料做成的无焊料连接件的紧密性和有效性。在所有试验中,主要根据试验样品在含有硫化氢大气中暴露所引起的接触电阻的变化值进行性能评价。

GB/T 2423.22-2012环境试验.第2部分：试验方法.试验N：温度变化

GB/T 2423的本部分规定的试验用来确定元器件、设备或其他产品耐受环境温度快速变化的能力。实现这一目的所需的各温度下的暴露持续时间取决于试验样品的特性。

GB/T 2423.23-2013环境试验第2部分:试验方法试验Q:密封

GB/T 2423的本部分规定了各种密封性能试验方法。试验Qa、Qc是粗检,观察从漏隙中冒出的气泡;试验Qd是在加温条件下观察液体的渗漏;试验Qy是在降压的条件下使气体通过漏隙进入试验箱,然后测量试验箱的性能变化;试验Qk、Qm是用示踪气体检测细漏;试验Qf、Ql是在加压条件下使液体通过漏隙进入其中,然后测量其性能变化。本部分适用于检测各种电工电子产品的密封性能,也适用于其他密封零部件的密封性检测。