2.4GHz 频段宽带传输设备检测

发布时间：2024-06-21 作者：中析研究所浏览：

GB/T 2019-1987磁带录音机基本参数和技术要求

本标准适用于带宽为6.30mm盘式磁带及带宽为3.81mm盒式磁带的录音机，不适用于特殊录音机，例如调制式录音机及高速复制机等。收录两用机等多用机的录音部分也按本标准考核。

GB/T 2036-1994印制电路术语

本标准规定了印制电路技术的常用术语及其定义。本标准适用于印制电路用基材、印制电路设计与制造、检测与印制板装联及有关领域。

GB/T 2099.9-2017家用和类似用途插头插座第2-9部分:信息插座的特殊要求

GB/T 2099的本部分规定了家用和类似用途的信息插座的标志、防触电保护、结构、电气性能、机械性能等技术要求。本部分适用于户内或户外使用的、家用和类似用途的、用于连接互联网和传输信息的固定式插座或移动式插座。信息插座适合在下述环境温度中使用：通常不超过+40 ℃，但在24 h期间内平均不超过+35 ℃，环境空气温度的下限值为-5 ℃。

GB/T 2298-2010机械振动、冲击与状态监测词汇

本标准定义了机械振动、冲击与状态监测领域特有的术语和表达式。

GB/T 2422-2012环境试验试验方法编写导则术语和定义

本标准给出了电工电子产品环境试验中使用的术语及其定义，如:元件、分组件、组件和装置。环境条件包括:冲击，振动，气候(温度、湿度和气压)，密封(防止固体、液体、气体浸入或维持压差)，焊接热(包括焊接产生的热冲击)。本标准没有涉及着火危险试验的有关术语，其相关术语在GB/T 5169标准中列出。没有考虑如下条件:太阳辐射，长霉，腐蚀，引出端强度，标记的耐久性，尘，沙和降水，核辐射，声振。

GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验A: 低温

GB/T 2423 的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验 Ab 和试验 Ad 与早期版本无实质性的差异。增加试验 Ae 的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力 , 在这种情况下 ,应采用 GB/T 2423.22 。本低温试验方法细分为以下几种 :——非散热试验样品低温试验 :·试验 Ab, 温度渐变。——散热试验样品低温试验 :·试验 Ad, 温度渐变 ;·试验 Ae, 温度渐变 , 试验样品在整个试验过程通电。本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。

GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验B:高温

GB/T 2423 的本部分规定的高温试验适用于非散热和散热试验样品。试验 Bb 和试验 Bd 与早期版本无实质性的差异。本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。本高温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力 , 在这种情况下 , 应采用 GB/T 2423.22 。本高温试验方法细分为以下几种 :——非散热试验样品高温试验 :·试验 Bb, 温度渐变。——散热试验样品高温试验 :·试验 Bd, 温度渐变 ;·试验 Be, 温度渐变 , 试验样品在整个试验过程通电。本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。

GB/T 2423.3-2016环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

GB/T 2423的本部分规定了确定元件或设备在高湿度的条件下使用、贮存和运输时适应性的试验方法。本部分的目的是用于确定规定时间内恒定温度、无凝露的高湿环境对试验样品的影响。本部分适用于小型设备或元件，也适用于大型设备，同时适用于散热和非散热试验样品。

GB/T 2423.5-2019环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击

GB/T 2423的本部分提供了确定样品经受规定严酷度的非重复或重复冲击能力的标准程序。本试验的目的是用来暴露机械薄弱环节和/或性能下降和冲击引起的累计损伤和退化情况，并且利用这些资料，结合有关规范，来决定样品是否可以接收。在某些情况下，本冲击试验也可以用来确定样品的结构完好性，或作为质量控制的手段(见A.2)。本试验主要针对不带包装样品，以及在运输条件下其包装可看作产品本身一部分的样品。如果不带包装物品进行试验，将之归于受试样品。然而，如果物品是有包装的，就将产品及其包装视作为一个受试样品。GB/T 2423.43—2008有关于包装产品接受试验的介绍。本部分是针对脉冲波形来编写的，附录A给出了选择和使用这些脉冲波形的导则，附录B讨论了各种不同波形的特性。如有可能，施加于样品的试验严酷等级和冲击脉冲波形尽可能模拟样品将要经受到的实际运输或工作环境的效果；而试验的目的是为了评价结构完整性，是否符合设计要求(见A.2和A.4)。在试验期间，样品总是直接或通过夹具固定到冲击试验机台面上。在适用的情况下，技术委员会的职责之一是在编写出版物时使用基本安全出版物。

GB/T 2423.10-2019环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦)

GB/T 2423的本部分给出了一个标准的试验方法过程，用以确定元件、设备和其他产品(下文称样品)经受规定严酷度正弦振动的能力。如果试验要求采用非包装形式，表明受试样品是不带包装的。然而，如果试验要求样品带包装，就用带包装的产品，并将产品及其包装视为一个受试样品。本试验的目的是确定样品的机械薄弱环节和/或特性降低情况。用这些资料，结合有关规范用以判定样品是否可以接收。在某些情况下，本试验方法可用于论证样品的机械结构完好性和/或研究它们的动态特性。也可根据经受本试验不同严酷等级的能力来划分元器件等级。

GB/T 2423.19-2013环境试验第2部分:试验方法试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验

本试验:--为评价二氧化硫污染大气对接触点和连接件的腐蚀作用提供了一种加速试验方法;--尤其适用于作对比试验;--不能作为常规腐蚀试验。即,它可能无法预测接触点和连接件在工业大气中的腐蚀行为。本试验的目的是:a)确定含二氧化硫的气体对贵金属或贵金属镀层的接触点和连接件的接触性能的影响,不包括银和某些银合金组成的元件。b)检验无焊料连接件的牢固性及有效性。在所有试验中,连接件暴露于二氧化硫试验气体中而引起其接触电阻的变化可作为主要的性能判据。

GB/T 2423.20-2014环境试验第2部分:试验方法试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验

本试验:--为评价用于接触点和连接件的银和银合金变色提供了一种加速试验方法;--尤其适用于作对比试验;--不宜作为通用腐蚀试验,即它可能无法预测接触点和连接件在工业大气中的腐蚀行为。本试验的目的是:a) 确定含硫化氢的大气对下面材料制成的接触点和连接件的接触特性的影响:--银或银合金;--有其他保护层的银;--用银或银合金覆盖的金属。b) 检查用上述材料做成的无焊料连接件的紧密性和有效性。在所有试验中,主要根据试验样品在含有硫化氢大气中暴露所引起的接触电阻的变化值进行性能评价。

GB/T 2423.21-2008电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验M:低气压

本部分适用于室温条件下的低气压试验。本试验的目的是用于确定元件、设备或其他产品在低气压条件下贮存、运输或使用的适应性。

GB/T 2423.22-2012环境试验.第2部分：试验方法.试验N：温度变化

GB/T 2423的本部分规定的试验用来确定元器件、设备或其他产品耐受环境温度快速变化的能力。实现这一目的所需的各温度下的暴露持续时间取决于试验样品的特性。

GB/T 2423.23-2013环境试验第2部分:试验方法试验Q:密封

GB/T 2423的本部分规定了各种密封性能试验方法。试验Qa、Qc是粗检,观察从漏隙中冒出的气泡;试验Qd是在加温条件下观察液体的渗漏;试验Qy是在降压的条件下使气体通过漏隙进入试验箱,然后测量试验箱的性能变化;试验Qk、Qm是用示踪气体检测细漏;试验Qf、Ql是在加压条件下使液体通过漏隙进入其中,然后测量其性能变化。本部分适用于检测各种电工电子产品的密封性能,也适用于其他密封零部件的密封性检测。