石英晶体滤波器检测

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GB/T 7895-2008人造光学石英晶体

本标准规定了人造光学石英晶体的术语定义、要求、试验方法、检验规则、标志包装。本标准适用于制作棱镜、透镜、光学窗口片、旋光片、偏光片、波片、光学低通滤波器等光学元件用人造光学石英晶体。

GB/T 11461-2013频谱分析仪通用规范

本标准规定了频谱分析仪的术语和定义、通用技术要求、试验方法、质量检验规定和包装运输等内容。本标准适用于各种通用类型的频谱分析仪,包括模块化频谱分析仪和具有频谱分析的功能单元。

GB/T 12274.1-2012有质量评定的石英晶体振荡器.第1部分：总规范

GB/T 12274的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器的试验方法和通用性要求。本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体振荡器。

GB/T 12763.8-2007海洋调查规范 第8部分:海洋地质地球物理调查

GB／T l2763的本部分规定了海洋地质、地球物理调查的基本内容、方法、资料整理及调查成果的要求。 本部分适用于海洋地质、地球物理环境基础要素调查，一些、专项调查亦可参照使用。

GB/T 13962-2009光学仪器术语

本标准规定了光学基本术语,几何光学、物理光学、像质评定、光学零部件及工艺、光学仪器名称、光学测量及产品技术要求等方面的术语共1028条。 本标准适用于光学仪器标准制定、技术文件编制、教材和书刊编写及文献翻译等。

GB/T 15151-2012频率计数器通用规范

本标准规定了频率计数器的要求、试验方法、质量检验规则等。本标准适用于各型频率计数器，是频率计数器产品设计、生产、试验和检验的共同依据，也是制定相应频率计数器产品标准的依据。

GB/T 17564.4-2009电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式.第4部分:IEC标准数据元素类型和元器件类别基准集

GB/T 17564的本部分在公共字典内规定: ——电工设备和系统用电气元器件和材料的数据元素类型定义;——元器件类别及相关分类模式的定义;这些定义与电气元器件(包括电子、机电元器件和电工设备及系统中用的材料)有关。本部分的目的是用下列方式提供唯一标识的数据元素类型集：——定义的内容准确无歧义;——规定的值格式;——非定量数据元素类型的规定值域。元器件分类模式、元器件类别定义(通过特定数据元素类型将相关和有效的特性特征分配给每类元器件)用来准确元歧义定义数据元素类型并且使整个数据元素类型集可管理。本部分的数据元素类型集预定用于计算机化系统进行元器件选择与元器件管理、零部件列表处理以及计算机辅助设计、制造和测试。

GB/T 20485.22-2008振动与冲击传感器校准方法 第22部分：冲击比较法校准

本部分规定了采用测量随时间变化的参考加速度、速度或力的方法，对直线加速度计进行冲击比较法校准的仪器设备及操作程序。本方法适用于冲击脉冲持续时间范围”为0.05 ms～8.0 ms，动态范围(峰值)为100 m／s<上标2>～100 km／s<上标2>(与脉冲持续时间有关)。这些方法可以得到传感器的冲击灵敏度(也就是加速度传感器输出量的峰值和加速度峰值的关系)。 这些方法不用于模态分析中用的动态力传感器的校准。 注1：本部分针对的是那些从事冲击测量的用户，他们需要如GB／T 19001《质量管理体系要求》(idt ISO 9001)和GB／T 15481《检测和校准实验室能力的通用要求》(idt ISO／IEC 17025)所述的可溯源性。 注2：本部分规定的方法基于加速度的时间历程的测量，从根本上不同于GB／T 20485.1—2008所述基于速度变化原理的其他冲击校准方法，因此冲击灵敏度也从根本上不同于后者得到的冲击校准因子，但和GB／T 20485.13-2007冲击灵敏度一致。

GB/T 20485.41-2015振动与冲击传感器校准方法 第41部分:激光测振仪校准

GB/T 20485的本部分规定了通常在0.4 Hz~50 kHz频率范围内对直线运动激光测振仪进行绝对法和比较法校准所用的仪器和程序。本部分不仅规定了在认可或非认可校准实验室对激光测振仪或机械振动传感器进行校准所需的标准激光测振仪，而且明确了使用标准激光测振仪对激光测振仪进行绝对校准，或者使用经激光干涉法校准过的参考传感器对激光测振仪进行比较校准的方法和程序。若将激光测振仪设计成检测直线运动量(位移或速度)，并将其转化为一定比例(即时域相关)电信号输出的激光光学传感器，不论它们是否含有指示仪表，均可按照本部分进行校准。标准激光测振仪通常输出数字信号，激光测振仪通常输出模拟信号。激光测振仪的输出信号或读数可以是振幅，有时也包含运动量(包括加速度)的相移。本部分明确规定了复灵敏度模的校准(相位校准见附录D)。

GB/T 22317.1-2008有质量评定的压电滤波器.第1部分:总规范

GB/T 22317的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的压电滤波器的试验方法和通用性要求。

GB/T 22319.11-2018石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法

GB/T 22319的本部分规定了石英晶体元件的优值M大于4时，标称负载电容C<下标L>对应的石英晶体元件负载谐振频率f<下标L>以及标称频率时有效负载电容C<下标Leff>的测量方法。

GB/T 27700.2-2011有质量评定的声表面波（SAW）滤波器.第2部分：使用指南

本部分规定的声表面波滤波器广泛应用于电视,卫星通讯，光纤通讯和移动通讯等领域。由于这些声表面波滤波器具有不同的性能指标。所以可将其划分成一些基本类别。本部分包括各种声表面波滤波器结构，这些声表面波滤波器结构的工作频率范围大约为10 MHz～3 GHz不等，相对带宽为中心频率的0.02%～。制定本部分的目的不是进行理论解释，同时，本部分也不能解决实际中可能发生的问题。本部分旨在就用户定购一种新用途声表面波滤波器之前应考虑的一些基本问题加以阐述，从而使用户获得性能符合要求的产品。本部分给出的标准以及由生产商发布的详细规范，定义了标称频率、通带带宽、通带波动、矩形系数以及终端阻抗等指标。该部分列举了大量的具有典型性能的各种声表面波滤波器。但是不应该过分强调使用者在任何情况下都应选择标准中的声表面波滤波器，他可能为了使用标准中的声表面波滤波器只是导致电路的微小改变。这点特别针对声表面波滤波器标称频率的选择上。

GB/T 30118-2013声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

本标准规定了人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸镓镧(LGS)等单晶晶片等。本标准适用于人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸镓镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。

GB/T 32988-2016人造石英光学低通滤波器晶片

本标准规定了人造石英光学低通滤波器晶片术语和定义、分级、要求、测试方法、检验规则及包装、标识、交货条件。本标准适用于人造石英光学低通滤波器晶片。

GB/T 41032-2021宇航用元器件结构分析通用指南

本文件提供了宇航用元器件结构分析的一般流程和方法，给出了样品、分析试验流程、结构单元分解和结构要素识别方法、结构判别依据等需考虑的信息。本文件适用于半导体集成电路、半导体分立器件、光电器件、电阻器、电容器、电连接器、继电器、开关、熔断器、石英晶体、声表器件、滤波器、射频元件等类别元器件的结构分析工作，其他类别元器件参照执行。

JJF 1174-2017矢量信号发生器校准规范

本规范适用于频率范围为250 kHz~44 GHz的矢量信号发生器的校准，其他频段可参照执行。

QJ 1317A-2005电子元器件失效分类及代码

本标准规定了航天产品用电子元器件失效分类及其代码。本标准适用于航天产品研制过程中电子元器件失效信息的管理系统。在研制或管理航天用电子元器件工作中亦可参照使用。