GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

　　标准号：GB/T 38532-2020

　　中文标准名称：微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

　　英文标准名称：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

　　中国标准分类号

　　(CCS)G04

　　标准分类号

　　(ICS)71.040.40

　　发布日期

　　2020-03-06

　　实施日期

　　2021-02-01

　　主管部门

　　标准化管理委员会

　　归口单位

　　微束分析标准化技术委员会

　　主要起草单位

　　中国宝武钢铁集团有限公司 、上海发电设备成套设计研究院 、中国科学院上海硅酸盐研究所 。

　　主要起草人

　　姚雷 、张作贵 、曾毅 、郑芳 。

　　采标情况

　　本标准等同采用ISO标准：ISO 13067:2011。

　　采标中文名称:微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定。

　　相近标准(计划)

　　20173837-T-469 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定

　　GB/T 36165-2018 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法

　　20151737-T-605 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法

　　YB/T 4677-2018 钢中织构的测定 电子背散射衍射(EBSD)法

　　GB/T 19501-2013 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则

　　GB/T 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则

　　20153708-T-469 微束分析 电子背散射衍射 金属及合金的相分析方法

　　20111322-T-469 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则

　　20110888-T-469 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则