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400-635-0567Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
标准 推荐性 现行标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告》由TC38(微束分析标准化技术委员会)归口上报,TC38SC2(微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为标准化管理委员会。
厦门荷清教育咨询有限公司 、清华大学化学系 。
汤丁亮 、李展平 、岑丹霞 、姚文清 、刘芬 、王水菊 。
本标准等同采用ISO标准:ISO 13424:2013。
采标中文名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告。
20151802-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
20121403-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
20110878-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
20078461-T-491 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求
GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告