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400-640-9567Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
标准 推荐性 现行标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203(半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为标准化管理委员会。
硅材料深加工产品质量监督检验中心 、江苏联瑞新材料股份有限公司 、汉高华威电子有限公司 。
封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。
20141079-T-469 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
GB/T 32661-2016 球形二氧化硅微粉
20082071-T-609 球形二氧化硅微粉
20067338-T-605 电炉回收二氧化硅微粉
GB/T 21236-2007 电炉回收二氧化硅微粉
20060890-T-605 萤石 二氧化硅含量的测定
GB/T 5195.8-2006 萤石 二氧化硅含量的测定
20141080-T-469 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
GB/T 37406-2019 电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
SJ/T 10675-2002 电子及电器工业用二氧化硅微粉
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