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射频同轴电缆检测项目报价? 解决方案? 检测周期? 样品要求? |
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射频同轴电缆由内导体(铜/铝)、绝缘层(聚乙烯/发泡材料)、外导体(编织铜网或铝箔)及护套(PVC/PE)组成。其核心功能是保证高频信号低损耗、抗干扰传输。检测目的在于验证其电气、机械及环境适应性是否符合标准(如IEC 61196、GB/T 14864)。
特性阻抗测试 采用矢量网络分析仪(VNA)测量50Ω/75Ω标称阻抗,偏差需控制在±2Ω以内。异常阻抗易导致信号反射,引发通信误码。
衰减常数(插入损耗) 通过扫频法(100MHz-40GHz)检测单位长度信号损耗。例如,SYV-75-5电缆在1GHz时损耗应≤0.15dB/m。损耗超标需排查材料介电损耗或导体电阻率问题。
电压驻波比(VSWR) 使用驻波比测试仪测量,理想值≤1.5。高VSWR表明连接器焊接不良或电缆结构变形。
屏蔽效能 采用三同轴法测试,要求≥90dB(5GHz)。编织层覆盖率不足或铝箔破损将导致屏蔽失效。
弯曲半径与疲劳测试 依据IEC 61196-1标准,模拟反复弯曲(>500次)后检测电气性能变化。外护套开裂或屏蔽层断裂需改进材料韧性。
抗拉强度与压扁试验 内导体断裂强度≥200N,护套抗压强度需承受500N/10s无变形。
高低温循环试验 (-40℃~+85℃)循环10次后,衰减变化率<5%。绝缘层热胀冷缩不均易导致阻抗波动。
湿热老化测试 温度85℃、湿度85%RH环境下放置168小时,护套不得出现龟裂或起泡。
盐雾腐蚀试验 外导体在5% NaCl溶液中喷雾48小时,表面氧化腐蚀面积需<5%。
导体直流电阻 使用四线法测量,铜导体电阻率应≤0.01724Ω·mm²/m。
绝缘层介电常数 通过谐振腔法测试,发泡聚乙烯ε_r需控制在1.2-1.5之间,过高将增加信号延迟。
护套材料成分分析 采用FTIR光谱法验证PVC中增塑剂含量,避免老化脆化。
特性阻抗不达标 原因:内导体直径偏差>0.02mm或绝缘层偏心度>5%。 措施:优化挤出模具精度,增加在线直径监测。
高频衰减异常 原因:发泡绝缘层密度不均或导体表面粗糙度高。 措施:调整氮气发泡工艺参数,采用电解铜拉丝技术。
屏蔽效能不足 原因:铝箔搭接率<90%或编织层覆盖率<95%。 措施:优化纵包成型工艺,编织机锭数增加至64锭以上。
检测项目 | 标准依据 | 设备 |
---|---|---|
特性阻抗 | IEC 61196-1 | 矢量网络分析仪(Keysight) |
衰减常数 | MIL-STD-202G | 扫频信号发生器 |
屏蔽效能 | IEC 62153-4-3 | 三同轴测试系统 |
弯曲疲劳 | GB/T 2951.11 | 机械弯曲试验机 |
射频同轴电缆的全面检测需覆盖设计、生产到应用全周期。通过电气参数验证、机械强度测试及环境模拟,可系统性排除潜在故障,保障5G基站、卫星通信等场景下的长寿命稳定运行。未来检测技术将向自动化(AI缺陷识别)和超高频(110GHz以上)方向发展,以满足6G通信的严苛需求。