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SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits - General princip
半导体集成电路TTL电路检测
SJ/T 10735-1996 半导体集成电路 TTL电路测试方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits General principles o
半导体集成电路微处理器及外围接口电路检测
GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
General principle of measuring meth